芯片鈍化層PCT溫濕度偏壓壽命試驗箱
芯片鈍化層PCT溫濕度偏壓壽命試驗箱是一種用于進行PCT(壓力鍋測試)溫濕度偏壓壽命測試的設備。它主要用于電子、電氣、半導體等產(chǎn)品的可靠性評估,特別是在惡劣環(huán)境下模擬產(chǎn)品的使用壽命。該試驗箱通過在高溫高濕的環(huán)境中施加高氣壓和偏壓,模擬產(chǎn)品在實際使用過程中可能遇到的壓力和溫濕度變化。通過持續(xù)進行溫度循環(huán)、濕度循環(huán)和偏壓循環(huán)等測試,可以加速產(chǎn)品老化過程和失效機理
- 01
更新日期
2024-11-19 - 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 - 03
瀏覽量
854